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  • 可控高溫原位X射線測試臺
    可控高溫原位X射線測試臺

    可控高溫原位X射線測試臺是一種集成了高溫控制與X射線衍射分析功能的科研設備。適用于晶體材料物相定性和定量分析、衍射譜的指標化和點陣參數(shù)的測定、晶粒尺寸及點陣畸變的測定、薄膜物相的測定以及原位高溫結構變化的動態(tài)分析等。

    更新時間:2025-06-20瀏覽量:1223
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